高溫試驗(yàn)箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對(duì)于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸，使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)，鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。

　　溫度波動(dòng)度

　　這個(gè)指標(biāo)也有叫溫度穩(wěn)定度，控制溫度穩(wěn)定后，在給定任意時(shí)間間隔內(nèi)，

　　工作空間內(nèi)任一點(diǎn)的zui高和zui低溫度之差。這里有個(gè)小小的區(qū)別“工作空間”并不是“工作室”，是大約工作室去掉離箱壁各自邊長(zhǎng)的1/10的一個(gè)空間。這個(gè)指標(biāo)考核產(chǎn)品的控制技術(shù)。

　　溫度范圍

　　指產(chǎn)品工作室能耐受和(或)能達(dá)到的極限溫度。通常含有能控制恒定的概念，應(yīng)該是可以相對(duì)長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行的極值。一般溫度范圍包括極限高溫和極限低溫。

　　一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤1℃或±0.5℃。

　　溫度均勻度

　　舊標(biāo)準(zhǔn)稱均勻度，新標(biāo)準(zhǔn)稱梯度。溫度穩(wěn)定后，在任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間內(nèi)任意兩點(diǎn)的溫度平均值之差的zui大值。這個(gè)指標(biāo)比下面的溫度偏差指標(biāo)更可以考核產(chǎn)品的核心技術(shù)，因此好多公司的樣本及方案刻意隱藏此項(xiàng)。

　　一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤2℃

　　溫度偏差

　　溫度穩(wěn)定后，在任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間中心溫度的平均值和工作空間內(nèi)其它點(diǎn)的溫度平均值之差。雖然新舊標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此指標(biāo)的定義和稱呼相同，但檢測(cè)已有所改變，新標(biāo)準(zhǔn)更實(shí)際，更苛刻一點(diǎn)，但考核時(shí)間短點(diǎn)。

　　一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為±2℃，純高溫試驗(yàn)箱200℃以上可按實(shí)際使用溫度攝氏度(℃)±2%要求。  

      然后再來看一下產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及外觀要求：高溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)中制定的技術(shù)要求。

     1、首先內(nèi)壁應(yīng)使用耐熱不易氧化和具有一定機(jī)械的材料制造；

     2、保溫材料應(yīng)能耐高溫并具有自熄性能；

     3、保溫層的厚度應(yīng)使試驗(yàn)箱外部易觸及部位的溫度不高于50℃；

     4、加熱器件不得構(gòu)成對(duì)試驗(yàn)樣品的直接輻射；

     5、應(yīng)設(shè)有觀察窗，工作室內(nèi)應(yīng)設(shè)有照明裝置；

     6、應(yīng)設(shè)有將測(cè)試電源引入工作室內(nèi)的引線孔；

     7、高溫試驗(yàn)箱箱門的密封條應(yīng)不易在高溫條件下老化、發(fā)粘、變形、失去密封性能，并應(yīng)便于更換；

     8、應(yīng)有放置或懸掛樣品的樣品架，樣品架在高溫條件下應(yīng)具有一定的機(jī)械強(qiáng)度并便于裝卸；

     9、應(yīng)具有溫度調(diào)節(jié)、指示、記錄等儀器儀表或裝置；

     10、外觀涂鍍層應(yīng)平整光滑，色調(diào)均勻，不得有露底、起泡、超層或擦傷痕跡。